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东莞九星电子科技有限公司
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相关产品
产品信息
产品名称: X荧光光谱仪|*属检测仪|ROHS检测仪
产品型号: BX-200S 冶金.钢铁行业*
简单概述:
X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、材料中元素的快速、准确分析。
荧光光谱仪|*属检测仪|ROHS检测仪/*属检测仪/ROHS检测仪/ROHS测试仪/*属检测仪/ROHS检测仪 X荧光光谱仪|*属检测仪 BX-200S小型多道X射线荧光光谱仪是采用波长色散技术的多种元素同时*定量的分析 仪器。仪器可配置10个固定分光道，可同时分析10种元素。根据用户的应用要求可配置为从NA 到U 的任意10种元素。
应用领域
测试高炉渣、生铁、烧结矿、球团矿、白云石、膨润土、石灰石、普硅等，还可以广泛应用于铜合金、锌合金、镁合金、钛合金、钴合金、不锈钢等金属样品的成分分析。
仪器介绍
该技术的主要特征为：利用*X光激发待测元素，对Si、S、Al、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大*了检测效率和工作效率：采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比；采用自动稳谱装置，*了仪器工作的一致性：利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有好的分析精度；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。
性能特点
1.*的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
2.内置高清摄像头。
3.自动升降平台，自动化程度高。
4.针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
5.电制冷UHRD探测器。
6.智能全元素分析软件，操作简单。
技术指标
测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—99.99%
同时分析元素：多种元素同时分析
功能范围：水泥、钢铁、矿料等全元素分析
分析精度：0.05% （对含量96%以上元素）
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：60s—200s
能量分辨率为：（150±5）eV
管压：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
技术原理
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量
非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。
缺点
难于作*对分析，故定量分析需要标样。
对轻元素的灵敏度要低一些。
容易受相互元素干扰和叠加峰影响。
X荧光光谱仪
产品型号: BX-200S 冶金.钢铁行业*
简单概述:
X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、材料中元素的快速、准确分析。
荧光光谱仪|*属检测仪|ROHS检测仪/*属检测仪/ROHS检测仪/ROHS测试仪/*属检测仪/ROHS检测仪 X荧光光谱仪|*属检测仪 BX-200S小型多道X射线荧光光谱仪是采用波长色散技术的多种元素同时*定量的分析 仪器。仪器可配置10个固定分光道，可同时分析10种元素。根据用户的应用要求可配置为从NA 到U 的任意10种元素。
应用领域
测试高炉渣、生铁、烧结矿、球团矿、白云石、膨润土、石灰石、普硅等，还可以广泛应用于铜合金、锌合金、镁合金、钛合金、钴合金、不锈钢等金属样品的成分分析。
仪器介绍
该技术的主要特征为：利用*X光激发待测元素，对Si、S、Al、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大*了检测效率和工作效率：采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比；采用自动稳谱装置，*了仪器工作的一致性：利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有好的分析精度；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。
性能特点
1.*的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
2.内置高清摄像头。
3.自动升降平台，自动化程度高。
4.针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
5.电制冷UHRD探测器。
6.智能全元素分析软件，操作简单。
技术指标
测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—99.99%
同时分析元素：多种元素同时分析
功能范围：水泥、钢铁、矿料等全元素分析
分析精度：0.05% （对含量96%以上元素）
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：60s—200s
能量分辨率为：（150±5）eV
管压：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
技术原理
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量
优点
X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。
分析精密度高。
制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析
分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的*待测元素。
X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。*是在*软X射线范围内，这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定 。非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。
缺点
难于作*对分析，故定量分析需要标样。
对轻元素的灵敏度要低一些。
容易受相互元素干扰和叠加峰影响。
X荧光光谱仪